上海伯东美国 InTest 热流仪中国总代理. InTest 高低温冲击热流仪适配各品牌的测试机台进行车载 Carplay 用 SD NAND 闪存芯片的温度测试.

上图: 美国 InTest 高低温冲击热流仪搭配测试机台进行车载用 SD NAND 闪存的温度测试.

为了保证每一枚 SD NAND 的质量, 推荐使用上海伯东美国 InTest ATS 系列高低温冲击热流仪搭配 NAND 闪存测试机, 可以为 SD NAND 提供 -75℃ 至 225℃ 的温度模拟环境，对 SD NAND 闪存进行高低温老化测试，从而检验稳定性.

一、美国 InTest 高低温冲击热流仪在 SD NAND 闪存温度测试中的应用优势
1.InTest 热流仪从 -55°C 至 +125°C 的温度变化时间只需 10 s, 快速的变温速率, 提升了 SD NAND 的测试效率.
2. InTest 热流仪出厂自带 Ethernet, IEEE-488, RS232 通讯接口, 配合连接客户端的操作系统, 可以远程获取和更改热流仪的温度设定值, 使得 SD NAND 的测试更加方便
3. InTest 热流仪温度精度高达±1°C，显示分辨率达到±0.1°C，能够实现精准控温，可以为客户提供更精准的 SD NAND 测试数据.

美国 InTest ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. InTest热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 InTest 热流仪<>中国总代理. 推荐热流仪应用案例 >>

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