飞行时间二次离子质谱仪 PHI nanoTOF 3+

上海伯东代理飞行时间二次离子质谱仪 PHI nanoTOF 3+, 表面灵感度高, 提供表面几个原子层的分子, 元素及其同位素的组成信息. 先进的多功能 PHI nanoTOF 3+ 具有更强大的微区分析能力,更加出色的分析精度.

飞行时间二次离子质谱仪 PHI nanoTOF 3+
最新一代 TRIFT 质量分析器, 更好的质量分辨率
适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析
独特的离子束技术
平行成像 MS / MS 功能, 助力有机大分子结构分析
多功能选配附件

PHI nanoTOF 3+ 性能指标（用Bi3++初次离子源）
低质量数质量分辨率：≥ 15,000 m/Δm at m/z = 28Si+ on silicon wafer
绝缘样品质量分辨率： ≥ 15,000 m/Δm at m/z = C7H4O+ on the polymer PET
最小数斑尺寸：50nm (最小脉冲束斑直径)
0.5um (在高质量分辨率条件下的最小脉冲束斑直径）

氩团簇离子源 (Ar-GCIB) :  有机材料深度剖析
使用氩团簇离子源 (Ar-GCIB) 能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏, 从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息.

Cs源和 Ar/O2 源: 无机材料深度剖析
可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额, 使用 Cs 源可增强负离子产额, O2源可增强正离子产额

飞行时间二次离子质谱仪 PHI nanoTOF 3+ 应用场景
上海伯东 PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的 TOF-SIMS 分析: 在高质量分辨模式下, 其空间分辨率优于 500 nm

在高空间分辨模式下, 其空间分辨模式优于50 nm. 通过结合高强度离子源, 高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器, 可以实现低噪声, 高灵敏度和高质量分辨率的测量; 在这两种模式下, 只需几分钟的测试时间,均可完成采谱分析.


什么是飞行时间二次离子质谱仪 TOF- SIMS
TOF-SIMS(Time of flight Secondary lon Mass Spectrometry) 是利用脉冲离子東轰击样品表面产生二次离子, 经飞行时间分析器分析二次离子到达探测器的时间, 从而获得样品表面成份信息的分析技术. 其表面灵感度高, 提供表面几个原子层的分子, 元素及其同位素的组成信息, 运用于所有元素和同位素, 包括氢元素.