InTest BT28 热流仪光模块高低温测试

上海伯东美国 InTest BT28 桌面型高低温冲击热流仪, 适用于对低温要求不高的非高功率芯片或者器件测试, 例如光模块, 光通讯研发, 存储芯片, MCU 芯片研发等, inTEST BT28 热流仪台式设计, 占地面积小, 满足场地有限的实验环境.
inTEST BT28 高低温热流仪

InTest BT28 为光模块高低温测试提供降本增效的解决方案
1. 样品准备：将待测光模块插装于生产测试板上
2. 温控设置：使用 inTEST BT 28 热流仪, 设置待测光模块的外壳温度为 0℃, 40℃ 和 70℃
3. 电压设置：设置待测光模块的不同工作电压
4. 测试执行：结合其他测试设备, 如接收灵敏度测试仪, 光功率计等, 获取光模块的各项性能指标
5. 数据分析：对测试结果进行分析, 确保光模块在不同温度和电压条件下的性能满足设计要求
inTEST BT28 热流仪

inTEST BT28 桌面型高低温冲击热流仪技术优势

型号	InTest BT28	友厂型号
温度范围	-28 至 +225°C	-25 至 +200°C
触摸屏	可拆卸, 方便使用	不可拆卸
气流输出	4-14 scfm	4-12 scfm （标准）
变温速率	-10 至 +125°C, 约 10 秒或更快 +125 至 -10°C, 约 10 秒或更快	-5 至 +125°C 或 +125°C 至 -5 <10 秒
温度精度	± 1.0°C, 按 NIST 标准校准时	± 1.0°C
远程控制	Ethernet, IEEE-488, RS232, USB	IEEE-488.2 (GPIB), USB, Ethernet, Serial, LXI
电源	200 至 230V +/-10% VAC, 50 Hz, 15 Amp	220V, 16A, 50/60 Hz
节能	交流电	直流变频

InTest 热流仪利用创新的温度测试解决方案, 方便您直接在公司实验室及工作平台上进行光组件, 电路板模块等测试.节省空间的设计同时保证快速, 准确的温度控制, 同时最大限度地减少对环境的影响.

美国 InTest ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. InTest热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 InTest 热流仪中国总代理.推荐热流仪应用案例 >>

若您需要进一步的了解 InTest 热流仪详细信息或讨论, 请参考以下联络方式：
上海伯东: 叶小姐台湾伯东: 王小姐
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同号 ) T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同号 ) M: +886-939-653-958
qq: 2821409400

现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东叶小姐 1391-883-7267
上海伯东版权所有, 翻拷必究！