半导体功率器件广泛应用于汽车电子, 网络通信, 工业与电力等, 投入应用之前, 尤其是车规芯片, 需要经受各种苛刻和极端的环境条件验证, 因此可靠和安全的稳健设计至关重要. 近日某企业通过上海伯东推荐, 购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 为 MOSFET MOS 管, 场效应管, TO 封装等器件提供 -50 至 +150 °C 快速准确的外部温度环境, 满足测试功率器件性能的要求.

 

上海伯东美国 inTEST 热流仪提供功率器件解决方案
inTEST ThermoStream 热流仪的主要作用就是快速提供需要的模拟环境温度, 在进行高低温冲击测试中,器件通过线缆接到专用信号检测仪上, 同时测定在规定温度下如 -50℃ 至 150℃ 芯片的功能, 比如电流,运行频率, 功耗等. 通过持续采用低温, 常温及高温循环, 检测器件是否会出现无法工作的情况（短路或断路）, 从而确保器件允许的高低温环境等.


inTEST  ATS-710 热流仪功能特点
温度范围: -80 至+225 °C
变温速率: -55至 +125°C 约 10 s; +125至 -55°C 约 10 s
温度显示精度: ±1℃ (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
自动升降温: 冷冻机特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境; 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却
预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量 0.5 至 3 scfm)
自动待机: 空闲或加热模式下, 自动减少能耗
加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽

与传统高低温实验箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 热流仪主要优势：
1. 变温速率更快
2. 温控精度：±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个 IC (模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台 load board上的 IC 进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试.
6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度.

若您需要进一步的了解功率器件高低温冲击测试详细信息或讨论, 请参考以下联络方式：
上海伯东: 叶小姐                                   台湾伯东: 王小姐
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上海伯东美国 inTEST ATS-710 热流仪又获功率器件测试订单！