上海伯东代理美国 InTest ATS-750E 热流仪又获车载功率芯片高低温测试订单！为新能源汽车安全”保驾护航”！

车载功率芯片高低温冲击测试解决方案
上海伯东某客户从事集成电路芯片的封装, 测试等后工序加工及后工序技术研发等业务, 广泛应用于新能源汽车行业. 通过与用户沟通, 其部分功率模块产品尺寸较大且具有发热情况, 常规热流仪机型无法满足.

经上海伯东推荐选用美国 InTest ThermoStream ATS-750E, 出色的制冷能力和更高的测试温度: 温度范围 -85℃ 至 300℃, 美国 inTEST 热流仪的多元性为客户各项严格的测试要求提供强有力的支持, 为车载产品的高安全性, 高可靠性和高稳定性, 提供稳定和高效的解决方案.

InTest ATS-750E 热流仪提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式. 在实际测试中, 如果是单颗待测器件, 则将热电偶探头放置于器件周边, 越靠近器件越好. 此时, 热流仪输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值, 可搭配各类测试机台在电共同进行芯片测试.

随着新能源汽车的快速发展, 汽车功率模组成为当前开发的重点产品, 由于车载电子产品基本覆盖汽车的全生命周期, 因此需要符合汽车功能安全标准, 高低温冲击测试是其用于量产车上安全相关零部件的必要条件.

美国 InTest ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. InTest热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 InTest 热流仪中国总代理.推荐热流仪应用案例 >>

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InTest ATS-750 车载功率芯片高低温冲击测试