闪存(Flash Memory)，是非挥发性内存的一种，不需电力来维持数据的储存，可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种，前者用于储存程序代码，后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。


闪存温度测试原因
为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读／写操作功能，因此在出厂前需要进行温度测试，inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机凭借可测试温度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升温或降温 18°C，温度精度 +-1.0℃等优势广泛应用于闪存制造行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务

闪存温度测试方法:
通过与爱德万 (Advantest ) 内存 IC 测试系统搭配之下，客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求，上海伯东推荐选用 inTEST ATS-545-M 高低温循环测试机，并提供两种温度操作模式: Air mode 及 DUT mode

闪存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式来进行高低温循环测式，将闪存与 InTest ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互连接，如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。inTEST-Temptronic thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用，进行芯片高低温循环测试.

 

美国 InTest ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. InTest热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 InTest 热流仪中国总代理.推荐热流仪应用案例 >>

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