上海伯东美国 InTest ATS-710E 适用于汽车变速箱 8AT, 9AT 芯片的高低温冲击测试, 宽泛的温度测试范围和快速的温度变化, InTest ATS-710E 助力企业生产研发更高品质的变速器.

汽车变速箱 8AT, 9AT 芯片高低温冲击测试过程
测试仪器: InTest ATS-710E 搭配 Keysight  B150XA 系统
芯片测试温度范围: -50 至 150 ℃
设置12组温度点
测试时, 只需将待测芯片放置在高低温测试机 ATS-710E 测试腔内即可. 如果未连接测试腔, 则测试芯片可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接 Keysight 测试设备的 InTEST  的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.

InTest ATS-710E 高低温冲击热流仪具有快速的热循环和精确的温度控制, 是汽车变速箱芯片可靠性测试和表征的合适选择.

InTest ATS-710E 高低温冲击热流仪主要特点
1. 自动温度循环
2. 实时数据记录
3. 动态 (DUT) 温度控制
4. 本地和远程操作
5. 无霜测试环境
6. 节能模式
7. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证

美国 InTest ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. InTest  热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 InTest 中国总代理.