上海 光电子能谱仪 XPS
上海伯东代理 ULVAC-PHI 爱发科费恩斯超高真空表面分析仪器, 包含光电子能谱仪 ( XPS ) ,俄歇电子能谱仪 (AES), 飞行时间二次离子质谱仪 (Tof-SIMS) 和动态二次离子质谱仪 (D-SIMS ), 应用领域涵盖纳米技术, 太阳能技术, 微电子技术, 存储介质, 催化, 生物材料, 药品以及金属, 矿物, 聚合物, 复合材料和涂料等基础材料, 满足科学研究, 失效分析, 产品质量检测等需要.
上海伯东代理 ULVAC-PHI 爱发科费恩斯光电子能谱仪 XPS 先进的表面分析技术, 适用于科学研究和高科技产业等领域, 包括材料科学, 能源科学, 半导体器件, 微电子器件以及表面处理和表面异常检测等
既可常规高通量测试，又可微区高性能测试
光电子能谱仪 PHI GENESIS 500
光电子能谱仪 PHI GENESIS 500 适用于科学研究和高科技产业等领域, 包含电池, 半导体,光伏, 新能源, 有机器件, 纳米颗粒, 催化剂, 金属材料, 聚合物, 陶瓷等固体材料及器件领域.
硬 X射线光电子能谱仪 GENESIS 900
硬X射线光电子能谱仪 PHI GENESIS 900, 与传统的 XPS（软X射线光电子能谱）相比, HAXPES 具有更深的探测深度, 通常可达约 30nm, 适用于多层薄膜, 半导体光电器件等样品的无损深度分析. 可聚焦≤ 5µm 的微区 X 射线束斑
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