inTEST 高低温冲击热流仪

美国 inTEST Thermal Solutions 隶属于 inTEST Corporation 集团, 作为超过 50 年的热测设备专家, 在全球范围内提供准确的温度控制解决方案. inTEST 品牌包含 Temtronic 热流仪, Thermonics 超低温冰水机, Sigma Systems 和 North Sciences. 为芯片温度测试, 过程冷却和生物医学冷藏提供产品和定制解决方案. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
inTEST 热流仪

inTEST 热流仪腔体滤波器模块高低温测试

高低温测试机客户案例: inTEST ATS 710 对应用于各大通信基站中腔体滤波器进行 -55 °C 到 125 °C 范围内的高低温测试, 测试其在电路和电子高频系统中是否有较好的选频滤波作用, 是否能抑制频带外无用信号及噪声及滤波器稳定性等

inTEST 热流仪搭配压力机进行压力传感器 MENS 温度测试

高低温测试机 ATS-545 客户案例: inTEST 热流仪搭配压力机作为一种常用温度测试手段, 广泛应用于 MENS 性能测试.

inTEST 热流仪半导体芯片高低温测试

高低温测试机客户案例: thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程机联用, 进行半导体芯片温度冲击测试 Thermal shock 和温度循环测试 Thermal cycle.

inTEST 热流仪集成电路 IC 卡高低温测试

高低温测试机客户案例: 对集成电路 IC 卡进行高低温测试, 用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能

inTEST 安全芯片高低温冲击测试

高低温冲击测试客户案例: 应用于身份证, 银行卡, 门禁卡和物联网的安全芯片需要进行高低温冲击测试, 客户选用 ATS-545 与泰瑞达测试机联用, 实现对安全芯片 ﹣40℃~105℃ 快速冷热冲击.

inTEST 热流仪 RF 射频芯片高低温冲击测试

高低温测试机 ATS-710 客户案例: RF 射频芯片高低温冲击测试, 一般测试在 -40 °C 到 80 °C 范围内芯片处在发射模式下的频率的稳定性

inTEST 热流仪微处理器芯片高低温测试

高低温测试机客户案例:  搭配 delta design 测试机在 -40 到 125 °C 温度范围内, 对微处理器芯片进行高低温测试, 有效提高了芯片测试的速度和准确性, 快速进行在电工作的电性能测试, 失效分析, 可靠性评估等.