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原子力显微镜硅片表面形貌测量
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原子力显微镜硅片表面形貌测量

英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量
上海伯东代理的英国 NanoMagnetics 原子力显微镜硅片表面形貌测量应用, 某高校老师通过原子力显微镜进行硅片表面形貌测量和表面粗糙度测量, 便于后续进行拉曼增强.

测试方法: 选用上海伯东英国 NanoMagnetics 原子力显微镜 ezAFM 进行测试. 将样品放置在样品台, 通过系统软件自动控制.

原子力显微镜测试条件

原子力显微镜 AFM

图像参数

品牌

英国 NanoMagnetics

原子力显微镜型号

ezAFM

模式

动态模式

分辨率 ( pixels )

512 x 512

悬臂类型

ACLA from App Nano

Set RMS

1.0 VRMS

Free RMS

2.0 VRMS


原子力显微镜 ezAFM 性能

原子力显微镜AFM

扫描范围

120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm

模式

接触模式, 动态力 / 相位成像模式, 侧向力显微镜 LFM 和磁力显微镜 MFM 模式

噪声基底

65 fm √Hz

分辨率

2μm 集成光学显微镜

全高清摄像机

390x230μm, 2516x1960, pixels, 30fps,

样品尺寸

10 x 10 x 5mm ( 可配置为不限制样品尺寸 )


硅片表面形貌成像图

原子力显微镜硅片表面形貌成像图
硅片表面粗糙度成像图

原子力显微镜硅片表面粗糙度成像图

英国 NanoMagnetics 仪器 1998年在牛津成立, 作为原子力显微镜 AFM 制造商, 主营环境扫描探针显微镜 SPM, 低温扫描探针显微镜 LT-SPM, 霍尔效应测量系统等, 原子力显微镜适用于产品表面特征分析, 生命科学, 原位成像, 材料科学, 薄膜等领域.广泛应用于牛津大学, 斯坦福, 京都大学, NASA 等学府和科研院所.
 

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