上海 inTEST ThermoStream 高低温冲击热流仪阅读数: 12868
inTEST ThermoStream 热流仪, 实现芯片高低温冲击测试
上海伯东代理美国 inTEST 旗下 Temptronic ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 移动设计, 通过输出快速, 清洁干燥的冷热循环冲击气流, 为芯片温度测试提供快速准确的温度环境, 适合模拟芯片在各种温度测试和调节的应用, 广泛应用于集成电路 IC 卡, 电子芯片, 闪存, 功率器件, 光纤收发器或电子电路的在电高低温循环试验 Thermal cycle, 高低温冲击测试 thermal shock, 特性分析等.
inTEST 热流仪利用创新的温度测试解决方案, 方便您直接在公司实验室及工作平台上进行光组件, 电路板模块等测试.
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Temptronic ThermoStream 高低温测试机特性:
冷冻机(Chiller)特殊设计, 不需要液态氮气或二氧化碳冷却
每秒可快速升温或降温 18°C
分辨率 +-0.1℃
温度精度 +-1.0℃ (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)
机台模拟温度极限高点 + 300 ℃; 极限低点 -100 ℃
通讯接口 IEEE 488 和 RS-232
控制面板可选旋钮或触摸屏操作
特殊设计, 防止水气在 DUT上凝结
2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
与传统高低温试验箱对比, 上海伯东 inTEST 热流仪主要优势:
1. 变温速率更快, 每秒可快速升温/降温 15 °C
2. 温控精度: ±1℃
3. 实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度
4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件
5. 对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试
6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度
7. inTEST 热流仪和其他测试仪器联用时, 通讯方便, 无异常中断风险, 可连续运行.
一. Temptronic ThermoStream ATS-500 系列热流仪: 从小型台式的 -20℃ 到 -80℃ 的大型机型,适用于实验室或工业生产环境中, 传统的半导体和小装配温度测试.
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inTEST 型号 |
温度范围 °C |
气体流量 scfm |
变温速率 |
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-20 至 +225 |
低温4 高温 10 |
0 至 +125°C, <3 min |
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-45 至 +225 |
10 |
-40至+125°C, <12 sec |
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-60 至 +225 |
低温4 高温 10 |
-40至 +125°C, <12 sec |
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ATS-535 |
-60 至 +225 |
5 |
-40至 +125°C, <12 sec |
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-80至 +225 |
12,最大 18 |
-55至+125°C, <10 sec |
* Temptronic ThermoStream ATS-500 系列高低温测试机替代 Temptronic 型号: TP04100,TP04500,TP04310;Thermonics 型号 T-2610BV,T-2600BV,T-2650BV,T-2820
二. Temptronic ThermoStream ATS-700 系列热流仪: 由几种高容量的 THERMOSTREAM® 系统组成, 此设计是为了快速和准确控制您的组件和模块到达所需要的温度, 极限温控功能 -100°C 至 +300°C, 不仅可以经由加速到达设定温度的时间来提高产能, 还可以让高功率组件和大热容量基材以美国标准 (MIL-STD) 测试条件下, 24 小时 7天的连续测试. 无论是单独直接测试还是用在外接的腔体, 强大灵活的 ATS-700 系列高低温测试机都适用.
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型号 |
高低温气流冲击范围 °C |
气体流量 scfm |
变温速率 |
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-80°C to +225°C |
12,最大 18 |
-55至 +125°C <10 sec |
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-90°C to +225°C |
18 |
-55至 +125°C <10 sec |
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-90°C to +300°C |
18 |
-40至 +125°C <12 sec +125至 -40°C <40 sec |
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-100°C to +225°C |
8,最大 12 |
-55至 +125°C <10 sec +125至 -55°C <10 sec |
* 以上系统拥有共通的操作工作接口
* ThermoStream ATS-700 系列高低温测试机替代 Temptronic 型号: TP04300,TP04390,;Thermonics 型号 T-2500E/BE/EA,T-2500HFE/HFB,T-2500E/300,T-2500IX
inTEST 高低温冲击热流仪应用
车载芯片及器件, 电源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纤收发器等温度冲击测试.
美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.
若您需要进一步了解 inTEST 热流仪详细信息或讨论, 请参考以下联络方式：
上海伯东: 叶小姐 台湾伯东: 王小姐
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